一、检测能力
实验室具备按照国标、国军标、国际标准、美军标、行业标准、企业标准，对半导体集成电路、混合电路、微电路模块、半导体分立器              件、通用元件、特种元件、机电组件、光电器件、微波器件等开展鉴定检验、质量一致性检验、筛选试验、DPA试验、单项检测、失效分          析、标准培训与咨询、试验方案咨询与制订的各种能力。

二、分析试验（DPA和FA）
实验室自成立以来，完成了数千批元器件的破坏性物理分析（DPA）和失效分析（FA），先后为国家重点工程提供失效分析服务；承担了          GJB 4027“军用电子元器件破坏性物理分析方法”的制修订，该标准作为电子元器件DPA领域的权威标准，在电子元器件质量保证中起着          重要的作用。

主要检测项目：内部气体成份分析、粒子碰撞噪声检测、X射线检查、超声检测、密封（粗细检漏）、内外部目检、制样镜检、键合强度、         芯片粘附强度、扫描电镜、静电放电敏感度分类（ESD）、闩锁试验、热阻测试、红外热像分析等。

三、电性能测试
(一) 半导体分立器件静态参数测试
◆ 测试电压10V～3000V，分辨率1mV；
◆ 测试电流100pA～200A，分辨率3pA。
(二) 射频微波测试
◆ S参数测试：频率范围100kHz～8.5GHz；
◆ 功率放大器、低噪声放大器、滤波器、VCO、PLL等器件，频率范围100kHz～6GHz，最大测试功率44dBm。
(三) 混合集成电路、横块电路、滤波器、晶体元件等测试
◆ 信号激励能力：DC～120MHz，幅度10VP-P～50Ω；
◆ 电源激励能力：330V/100A；
◆ 电压基准：±1020V，5个量程，精度7位半；
◆ 电流基准：最大20A，7个量程，精度7位半；
◆ 电压测试范围：±1000VDC、750VAC，5量程，精度8位半；
◆ 电流测试范围：15ADC、15AAC，8个量程，精度8位半；
◆ 电阻测试范围：10Ω～1GΩ，7个量程，精度7位半；
◆ 时间测试范围：最小1ns，分辨率250ps；
◆ 频率测试范围：最大12.4GHz、精度10-9、分辨率12位。
(四) 运算放大器（含功率运放）、脉宽调制器PWM、电压比较器、电压跟随器、精密电压基准、时基电路、达林顿晶体管阵列等各类模                   拟器件的交、直流参数测试
◆ DUT 电流范围高达±10A，满足功率运放的测试要求；
◆ 可进行压摆率 SR+/SR-、增益带宽积BW等动态参数的测试；
◆ 失调电压测试分辨力高达 0.01uV，偏置电流测试分辨力高达0.05pA；
◆ 可在±40V的共模电压上叠加uV、mV级精密差模电压；
◆ 支持输入微小精密电压扫描测试方法，测试失调电压与滞回电压。
(五) 阻容感等元件测试

四、寿命试验
开展高温/常温稳态寿命、分立器件高温反偏、间歇寿命及阻容老化等试验。配备大功率分立器件寿命试验台，模块高温老化系统，集成电          路高温动态老化系统及高温综合试验系统等。

五、物理试验
球栅阵列（BGA）焊球剪切、焊球拉脱试验；镀层厚度测试；物理尺寸、高精度激光尺寸测量（平面度、焊球共面性）；耐溶剂性；可焊          性、耐焊接热试验；化学腐蚀、机械开封；累积氦密封试验；PIND；引线牢固性试验；引线涂覆附着试验；玻璃熔封盖板扭矩试验；连接          器的各种试验。

六、极限环境试验
(一) 气候试验：温度循环(空气-空气)、热冲击(液体-液体)、低气压、盐雾/盐气、交变/稳态湿热、高温贮存、低温贮存、强加速稳态湿热                 (高压蒸汽）、霉菌、浸渍等。
(二) 机械试验：随机振动、扫频振动、低频振动、高频振动、振动疲劳、振动噪声、机械冲击、恒定加速度等。

七、模拟空间试验
热真空试验、热真空释气试验

八、材料理化分析与无损检测
实验室拥有各类仪器设备包括：X射线检测仪、程控ESD试验台、扫描电子显微镜（SEM）、集成电路测试验证系统、电子束微探针                （EBT）、光辐射显微镜、红外热像仪、扫描声学显微镜（SAM）、内部气氛分析仪（IVA）等大型分析设备和配套的性能测试、试验评              价、失效分析、理化分析等先进的精密仪器设备。
实验室在电子材料、元器件、封装、组装和电子辅料的质量与可靠性方面，具有完善的检测、分析和试验能力；同时还开展有毒有害物质        （RoHS）、环境评估与监测、ODS替代技术检测等方面的技术服务。

电子元器件筛选